熒光光譜鍍層厚度測量?jì)x膜厚測試儀

德國菲希爾熒光鍍層測厚及材料分析儀

熒光光譜鍍層厚度測量?jì)x膜厚測試儀優(yōu)點(diǎn)

德國設計 ，技術(shù)先進(jìn)

一個(gè)軟件實(shí)現鍍層厚度測量和材料分析兩個(gè)功能

擴展統計功能。例如，測量結果可以記錄并轉為SPC圖表顯示

圖像識別：WinFTM可以自行查找預設的測量位置

基于基本參數分析的無(wú)標準片測量：在手邊樣本組成未知的情況下實(shí)現精確的測量結果

距離控制測量（DCM）：允許通過(guò)快速更改測量距離，在不需要設置和校準另一個(gè)測量任務(wù)的情況下，測量不同高度的測試部件。軟件能夠識別測量的距離，并自動(dòng)校正評估。

測量質(zhì)量：我們的儀器可以判斷您的測量質(zhì)量。錯誤地選擇了錯誤的測量任務(wù)或測量了錯誤的樣品？您的FISCHERSCOPE儀器會(huì )提醒您

任務(wù)程式：只需單擊一下，幾乎可以對WinFTM軟件中執行的所有操作進(jìn)行編程并執行。例如，一項任務(wù)可以自動(dòng)測量多個(gè)合金樣品。 X射線(xiàn)儀器將XY工作臺移動(dòng)到樣品位置，加載每個(gè)合金特定的測量條件，最后根據您的需要生成測試報告

FISCHERSCOPE X射線(xiàn)熒光儀器

在無(wú)損無(wú)接觸的涂層厚度測量和材料分析領(lǐng)域，FISCHERSCOPE X射線(xiàn)儀器是理想的選擇。自1983年以來(lái)，我們的X射線(xiàn)儀器已成為幾乎所有主要行業(yè)質(zhì)量測試的一個(gè)組成部分。我們的儀器以其精確性、準確性和耐用性而聞名。同時(shí)，FISCHERSCOPE X射線(xiàn)的設計易于使用，并在測量的各個(gè)方面為您提供支持。 這使您可以專(zhuān)注于手頭上的質(zhì)量工作，而不是測量?jì)x器上。

我們的X射線(xiàn)儀器配有專(zhuān)用的FischerWinFTM軟件，旨在規范測量過(guò)程。這包括控制X射線(xiàn)、實(shí)現測量的可追溯性、生成個(gè)性化測量報告以及與內部網(wǎng)絡(luò )交互。

我們種類(lèi)齊全的X射線(xiàn)設計用于高可靠性地測量不同的應用。電子、電鍍、汽車(chē)、黃金和珠寶等領(lǐng)域的公司以及更多的公司都依賴(lài)于FISCHERSCOPE X射線(xiàn)儀器進(jìn)行質(zhì)量控制?，F在就來(lái)看看我們的X光儀器并找出原因吧！

德國菲希爾熒光鍍層測厚及材料分析儀

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230
熒光光譜鍍層厚度測量?jì)x膜厚測試儀，采用手動(dòng)方式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。


FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237
X 射線(xiàn)熒光材料分析及鍍層測厚儀，配備可編程運行 X/Y 工作臺及 Z 軸升降系統，全自動(dòng)測量超薄鍍層厚度和分析材料成分。


FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240
X射線(xiàn)熒光鍍層測厚及材料分析儀，用于無(wú)損測量鍍層厚度及分析材料成分


FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 252
高性能X射線(xiàn)熒光材料分析及鍍層測厚儀，用于快速、無(wú)損分析材料成分及測量鍍層厚度